Rilievo micrometrico di superfici con metodi ottici

Lanzetta, Michele and Tantussi, Giovanni and Zambardi, Valerio (2008) Rilievo micrometrico di superfici con metodi ottici. Automazione e Strumentazione. Elettronica Industriale, LVI/20 (n. 5). pp. 178-184. ISSN 0005-1284

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Abstract

SUMMARY: A computerized optical measuring system for the surface characterization of different materials of widespread use, mainly stones, is described. The initiative of developing such system arose from three main needs: • performing analyses of surfaces having geometrical irregularities which cannot be easily detected with traditional stylus contact profilometry; • analyzing and processing the data acquired in electronic format; • speeding up and automating the whole measuring process on a large scale. The developed system performs different types of measures on the acquired data, furthermore the integration of an optical profilometer and a stylus texture measuring instrument allows extending the types of materials which can be analyzed. The system components, including numerically controlled sample motion and automated data acquisition, are computer integrated by a specifically designed program. RIASSUNTO: Viene presentato un sistema di misura per digitalizzare, con precisione micrometrica, le superfici di gran parte dei materiali utilizzati nell’ambito dell’ingegneria meccanica. Il sistema comprende un profilometro ottico integrato ad un rugosimetro a stilo, con i vantaggi di rapidità, accessibilità e precisione di entrambe le tecniche di scansione, con e senza contatto. Vengono descritti i principali moduli, inclusa la parte di movimentazione automatizzata del provino e un apposito software di controllo e di analisi dei profili acquisiti. L’articolo discute anche le problematiche legate alla strategia di scansione e preelaborazione dei dati.

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